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We participated in The 73rd JSAP Spring Meeting 2026 held at Ookayama Campus, Institute of Science Tokyo & Online on March 15-18, 2026.
There were 3 presentations from our laboratory as follows.

[1]工藤 涼兵, 小久保 瑛斗, 都木 克之, 岸下 徹一, 櫻井 良憲, 八島 浩, 牧野 高紘, 大島 武, 本田 善央, 天野 浩, 井上 翼, 青木 徹, 中野 貴之, “耐高温中性子検出器に向けたBGaNダイオードの膜厚依存性評価”, 第73回応用物理学会春季学術講演会, 17p-S2_202-6, 東京科学大学　大岡山キャンパス＆オンライン（東京都目黒区）, 2026年3月15日-18日（口頭）

[2]鈴木 隆介, 工藤 涼兵, 及川 徹, 中西 陽太, 小久保 瑛斗, 櫻井 良憲, 八島 浩, 牧野 高紘, 大島 武, 若林 源一郎, 本田 善央, 天野 浩, 井上 翼, 青木 徹, 中野 貴之, “過酷環境下での動作を目指したBAlGaN中性子検出器の作製と評価”, 第73回応用物理学会春季学術講演会, 15a-W2_401-2, 東京科学大学　大岡山キャンパス＆オンライン（東京都目黒区）, 2026年3月15日-18日（口頭）

[3]竹中 壮太郎, 工藤 涼兵, 安藤 光佑, 前田 百楽, 小久保 瑛斗, 都木 克之, 若林 源一郎, 小田 達郎, 日野 正裕, 本田 善央, 天野 浩, 井上 翼, 青木 徹, 中野 貴之, “フリップチップ加工に向けたBGaN縦型中性子検出器のデバイス構造検討”, 第73回応用物理学会春季学術講演会, 15a-W2_401-1, 東京科学大学　大岡山キャンパス＆オンライン（東京都目黒区）, 2026年3月15日-18日（口頭）

We participated in the 15th International Conference on Nitride Semiconductors (ICNS-15) 2025, Malmo, Sweden, July 6-11, 2025.
There were two presentations from our laboratory as follows.

[1]A.Hayashi, S. Nishikawa, E. Kokubo, G. Wakabayashi, Y. Honda, H. Amano, K. Matsumoto, N. Ito, T. Tanaka, K. Nakahara, Y. Inoue, T. Aoki, T. Nakano, “Evaluation of growth temperature dependency in BGaN growth using AlGaN template on QST substrate”, the 15th International Conference on Nitride Semiconductors (ICNS-15) 2025, Malmo, Sweden, July 6-11, 2025 (Poster)

[2]Ryohei Kudo, Tatsuhiro Sakurai, Eito Kokubo, Tetsuichi Kishishita, Yoshinori Sakurai, Hiroshi Yashima, Takahiro Makino, Takeshi Ohshima, Yoshio Honda, Hiroshi Amano, Yoku Inoue, Toru Aoki, and Takayuki Nakano, “Evaluation of radiation tolerance on BGaN detectors at KUR”, the 15th International Conference on Nitride Semiconductors (ICNS-15) 2025, Malmo, Sweden, July 6-11, 2025  (Poster)