OB 伊藤 芳純

伊藤 芳純 (Yoshizumi Ito)


趣味：映像作品鑑賞

研究テーマ
・光再構成型ゲートアレイのホログラフィックメモリに対する放射線試験

経歴

2009年4月　静岡県立浜松湖東高等学校 入学
2012年3月　静岡県立浜松湖東高等学校 卒業
2012年4月　国立大学法人静岡大学工学部電気電子工学科 入学
2016年3月　国立大学法人静岡大学工学部電気電子工学科 卒業
2016年4月　国立大学法人静岡大学大学院総合科学技術研究科工学専攻電気電子工学コース 入学
2018年3月　国立大学法人静岡大学大学院総合科学技術研究科工学専攻電気電子工学コース 卒業

資格

業績
表彰

  1. Champion in FPGA Design Contest 2017,
    T. Fujimori, Y. Ito, R. Terada, S. Fujisaki, T. Hatamochi, H. Shinba, M. Watanabe,
    International Workshop on Highly Efficient Accelerators and Reconfigurable Technologies, July, 2017.
  2. 学生研究奨励賞,
    社団法人電子情報通信学会東海支部, 伊藤芳純, 2017年6月．
  3. First Place in FPGA Design Competition 2016,
    T. Fujimori, Y. Ito, R. Terada, S. Fujisaki, T. Hatamochi, H. Shinba, M. Watanabe,
    International Conference on Field-Programmable Technology, Dec. 2016.
  4. エンベデッド部門 優勝，
    第7回 相磯秀夫杯 デザインコンテスト（The 2nd RECONF/CPSY/ARC/GI Trax デザインコンペティション），
    藤森卓巳，伊藤芳純，渡邊実，FIT2016 第15回情報科学技術フォーラム イベント企画，2016年9月．
  5. 一般部門 優勝，
    第7回 相磯秀夫杯 デザインコンテスト（The 2nd RECONF/CPSY/ARC/GI Trax デザインコンペティション），
    藤森卓巳，伊藤芳純，渡邊実，FIT2016 第15回情報科学技術フォーラム イベント企画，2016年9月．
  6. First Place of the Limited Category in the FPGA Design Competition,
    T. Fujimori, Y. Ito, T. Akabe, M. Watanabe,
    International Workshop on Highly Efficient Accelerators and Reconfigurable Technologies , July, 2016.
  7. First Place of the Unlimited Category in the FPGA Design Competition,
    T. Fujimori, Y. Ito, T. Akabe, M. Watanabe,
    International Workshop on Highly Efficient Accelerators and Reconfigurable Technologies, July, 2016.
  8. First Place in FPGA Design Competition 2015,
    T. Fujimori, T. Akabe, Y. Ito, K. Akagi, S. Furukawa, A. Tanibata, M. Watanabe,
    International Conference on Field-Programmable Technology, Dec. 2015.
  9. エンベデッド部門 優勝，
    第6回 相磯秀夫杯 デザインコンテスト（The 1st RECONF/CPSY/ARC/GI Trax デザインコンペティション），
    藤森卓巳，赤部知也，伊藤芳純，瀬尾真人，赤木昂太，古川晋也，渡邊実，FIT2015 第14回情報科学技術フォーラム イベント企画，2015年9月．
  10. 一般部門 優勝，
    第6回 相磯秀夫杯 デザインコンテスト（The 1st RECONF/CPSY/ARC/GI Trax デザインコンペティション），
    藤森卓巳，赤部知也，伊藤芳純，瀬尾真人，赤木昂太，古川晋也，渡邊実，FIT2015 第14回情報科学技術フォーラム イベント企画，2015年9月．

学術論文

  1. A. Ogiwara, M. Watanabe, Y. Ito,
    “Effects of gamma-ray irradiation on holographic polymer-dispersed liquid crystal memory,”
    Applied Optics, Vol. 56, Issue 16, pp. 4854-4860, May, 2017.
    DOI:10.1364/AO.56.004854 (OSA Publishing)

国際学会

  1. A. Ogiwara, M. Watanabe, Y. Ito, “Resistance Evaluation of Holographic Polymer-Dispersed Liquid Crystal Memory for Gamma-Ray Irradiation,”
    Microoptics Conference (MOC’17), pp. ***-***, Tokyo, Japan, Nov., 2017. (Accepted)
  2. Y. Ito, M. Watanabe, “FPGA Hardware Accelerator for Holographic Memory Calculations for Optically Reconfigurable Gate Arrays,”
    IEEE International Conference on Space Optical Systems and Applications, pp. ***-***, Okinawa, Japan, Nov., 2017. (Accepted)
  3. Y. Ito, M. Watanabe, A. Ogiwara “500 Mrad total-ionizing-dose tolerance of a holographic memory on an optical FPGA,”
    NASA/ESA Conference on Adaptive Hardware and Systems, pp. 167-171, Pasadena, USA, July, 2017.
    DOI:10.1109/AHS.2017.8046374 (IEEE Xplore)
  4. Y. Ito, M. Watanabe , A. Ogiwara, “300 Mrad total-ionizing-dose tolerance of a holographic memory on an optically reconfigurable gate array,”
    International Symposium on Next-Generation Electronics, pp. 1-3, Keelung,Taiwan, May, 2017.
    DOI: 10.1109/ISNE.2017.7968743 (IEEE Xplore)
  5. Y. Ito, M. Watanabe, A. Ogiwara, “A 200 Mrad radiation tolerance of a polymer-dispersed liquid crystal holographic memory,”
    IEEE International Conference on Data Science and Systems, pp. 1534 – 1535, Sydney, Australia, Dec., 2016.
    DOI: 10.1109/HPCC-SmartCity-DSS.2016.0219 (IEEE Xplore)
  6. Y. Ito, M. Watanabe, A. Ogiwara, “Demonstrating a holographic memory having 100 Mrad total-ionizing-dose tolerance,”
    International Conference on Mechanical and Aerospace Engineering, pp. 377 – 380, London, UK, July, 2016.
    DOI: 10.1109/ICMAE.2016.7549569 (IEEE Xplore)
  7. T. Fujimori, T. Akabe, Y. Ito, K. Akagi, S. Furukawa, H. Shinba, A. Tanibata, M. Watanabe,
    “FPGA Trax Solver based on a Neural Network Design,”
    International Conference on Field-Programmable Technology, pp. 260-263, Queenstown, New Zealand, Dec. 2015.
    DOI: 10.1109/FPT.2015.7393119 (IEEE Xplore)

国内学会

  1. 伊藤芳純，渡邊　実，荻原昭文，「光再構成型ゲートアレイのホログラムメモリ部の耐放射線性能試験」，
    電子情報通信学会技術研究報告（リコンフィギャラブルシステム研究会），pp. 43-46，登別温泉第一滝本館，5月22日，2017．
  2. 伊藤芳純，渡邊実，荻原　昭文，「ホログラムメモリの放射線耐性評価」，
    電子情報通信学会総合大会，3月，2017．
  3. 伊藤芳純，渡邊実，荻原昭文，「ホログラムメモリの放射線耐性試験」，
    第15回情報科学技術フォーラム（FIT2016），pp. 265-266, 富山大学，9月9日，2016.
  4. 伊藤芳純，渡邊 実，「並列処理指向・光再構成型ゲートアレイへのTMR実装」，
    デザインガイア2015 -VLSI設計の新しい大地，長崎県勤労福祉会館，pp. 1-4，12月，2015．

所属学会