金 属基板上の塗装膜厚測定は電磁式の膜厚計により十分な精度で 測定可能ですが、近年の軽量化や低コスト化に伴い樹脂材料が 様々な分野で多く使用されてきており、 これらの樹脂材料上の薄い塗装膜厚測定は電磁式を適用することが出来ず、 また市販の超音波膜厚計を用いても現状では十分な精度で測定することができません。
そこで、本研究室では高出力超音波装置を用いて、超音波を用いた パルス・エコー法(*)により、樹脂材料上の薄い塗装膜厚測定の可能性を探っています。
* パルス・エコー法・・・超音波には性質が異なる境界面で一部は反射し、残りは透過 する性質があります。この性質を利用し、超音波を測定物体に放射し、測定物体からの反射波 を受信することで、放射と反射の時間差を測定し、膜厚を評価する手法です。