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Following are brief introductions to the techniques we use.
We introduce briefly the techniques we use.

• Device Fabrication in Clean Room
  
  
• Low-temperature(~15 K) Measurement
  
  
• SPM(Scanning Probe Microscope) Observation (ex. AFM / KPFM) at ultra low vacuum system

私たちが用いる技術について簡単に紹介します。

• クリーンルーム内でのデバイス作製
  
• 低温下(~15 K)でのデバイス測定 

 

• 超高真空装置を用いたSPM(走査型プローブ顕微鏡)での観察 (ex. AFM / KPFM)