Coming soon!


  • Following are brief introductions to the techniques we use.
    We introduce briefly the techniques we use.

    • Device Fabrication in Clean Room
    • Low-temperature(~15 K) Measurement
    • SPM(Scanning Probe Microscope) Observation (ex. AFM / KPFM) at ultra low vacuum system


  • 私たちが用いる技術について簡単に紹介します。

    • クリーンルーム内でのデバイス作製
    • 低温下(~15 K)でのデバイス測定
    • 超高真空装置を用いたSPM(走査型プローブ顕微鏡)での観察 (ex. AFM / KPFM)