7.透過型電子顕微鏡JEM-1400・TEM-EDS　入門講習会（元素分析法講習会） 

2023年６月19日（月）午前10時00分 ～ 12時00分（S-TEMの基本操作法）
　　　　　　　　　 　　　　 午後 １時00分 ～ ４時00分（EDSの基本操作法）
　　　　　　　　　 　　　　 午後4時00分 ～ 5時00分（応用測定）
場所： 総合研究棟 211室
講師：　河原 尚 氏（日本電子社・EP事業ユニット）  

参加人数： 10名（教員４名、学生５名、技術職員等１名） 

　透過電子顕微鏡 (JEM-1400、日本電子社製) のS-TEM法とTEM-EDS法（元素マッピング）　の説明講習会が実施された。装置の起動方法、基本的な構成ユニットの説明、試料をホルダーに固定する方法、S-TEM法によるスキャン画像を得る方法、点分析、線分析および面分析により試料の元素分布を測定する方法、測定における注意点及び、測定性能について、装置を操作しながら丁寧な説明が行われた。また、応用測定として、２種類のナノ粒子試料について元素マッピングが行われた。 

　基本測定と応用測定の講習の後、質疑応答が行われた。また、教員・学生の測定に対して個別相談を行い、それぞれのサンプルの測定方法と測定条件について技術相談が行われた。