5 その他お役立ち情報(講習会日程もここです)

 

「講習会」の日程
12月11日(月曜日)に初心者講習会を行います

タイトル:

2023年度 第2回 電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM-EDS-EBSD)機器講習会

日時:

初心者講習会 2023年12月11日(月))10:20~12:00

場所:

初心者講習会座学: 静岡キャンパス理学部B棟204講義室

2023年12月11日(月)10:20~11:00

初心者講習会実習: 静岡キャンパス 総合研究棟211(FE-SEM)

2023年12月11日(月) 11:00~12:00

講習内容:

電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM-EDS-EBSD)の基本原理と使用方法について、座学と実習を行う。

本電子顕微鏡は汎用性を持つ分析機器で、現在までに、地球科学、生物科学、放射線科学、物理学などの研究室の卒論、修論などの研究のために使用されています。電子線を対象物に照射し発生するX線を利用する装置で、高倍率でのSEMとBEI観察、エネルギー分散型元素分析、元素マッピング、結晶方位測定が可能です。特に、低真空でも像の観察、元素分析ができるため蒸着の必要がなく、表面が研磨されている必要もありません。生物試料の観察もご相談ください。2021年12月静岡キャンパスに納品された機器(日本電子社製JSM-IT700HR、オックスフォード社製170mm2 検出器+symmetry2 EBSD検出器)で、検出器の性能は当時最高のものです。

電子顕微鏡の利用は、自力で使用できる人に限って使用してもらっています。慣れるまでは、これまでに使用経験のある人と一緒に観察してください。2回目の受講も受け付けます。装置の概要は次のHPにあります。

https://wwp.shizuoka.ac.jp/jsmit700-jxaisp100/%e3%81%93%e3%81%ae%e6%a9%9f%e6%a2%b0%e3%81%ab%e3%81%a4%e3%81%84%e3%81%a6/

受講対象者: 希望者どなたでも。
実習は日本語で行います。

主催: 静岡大学静岡共同利用機器センター
講師: 川本竜彦 (理学部地球学科)
申込: 2023年12月8日(金曜日)正午〆切

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講習参加申込フォーム

講習会タイトル:電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM-EDS-EBSD)講習会
同一の研究室であれば、名前、所属、学年、メールアドレスを連記してください。

氏名:

所属:

職名(学年):

指導教員名(学生の場合):

連絡先TEL:

連絡先e-mail:

受講希望の方は申込書を静岡共同利用機器センター 片田katada.kumiko@shizuoka.ac.jpまで送信くださいます様お願いいたします。

 

 

 

以下は実施済みです。

2023年度 第1回 電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM-EDS-EBSD)とタングステンフィラメント型波長分散型電子線マイクロプローブ装置(W-EPMA-WDS)機器講習会

日時:

初心者講習会 2023年5月9日(火))9:00~12:00

フォローアップ 2023年5月8日(月)午前10時、午後1時、午後3時から各グループ2時間

9日(火)午後3時から2時間

場所:

初心者講習会座学: 静岡キャンパス 総合研究棟4階創造大学院会議室(414)

2023年5月9日(火)9:00~9:30

 

初心者講習会実習: 静岡キャンパス 総合研究棟211(FE-SEM)、207室(EPMA)

5月9日(火)座学終了後~12:00

 

フォローアップセッションは上記時刻で各研究室などのグループごとに2時間。

講習内容:

電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM-EDS-EBSD)とタングステンフィラメント型波長分散型電子線マイクロプローブ装置(W-EPMA-WDS)の基本原理と使用方法について、座学と実習を行う。 希望する利用者に個別のフォローアップを行う。

いずれも電子線を対象物に照射し発生する特性X線の強度から構成元素を分析する装置です。FE-SEM-EDS-EBSDは高倍率でのSEMとBEI観察、エネルギー分散型元素分析、元素マッピング、結晶方位測定が可能です。特に、低真空でも像の観察、元素分析ができるため蒸着の必要がなく、表面が研磨されている必要もありません。2021年12月静岡キャンパスに納品された機器(日本電子社製JSM-IT700HR、オックスフォード社製170mm2 検出器+symmetry2 EBSD検出器)です。 W-EPMA-WDSは従来型の波長分散型元素分析(0.1wt%以下)と研磨試料の広範囲の元素マッピングに使用できます。2021年12月静岡キャンパスに納品された機器(日本電子社製JXA-iSP100)です。

 

利用者のフォローアップ講習について

電子顕微鏡の利用は、現在支援者がいませんので、自力で使用できる人に限って使用してもらっています。既に使用したことのある人で大井研究員(益富地学会館)に技術的指導を希望する人のために、今回は月曜日と火曜日午後に時間を設けます。

装置の概要は次のHPにあります。

https://wwp.shizuoka.ac.jp/jsmit700-jxaisp100/%e3%81%93%e3%81%ae%e6%a9%9f%e6%a2%b0%e3%81%ab%e3%81%a4%e3%81%84%e3%81%a6/

受講対象者: 希望者どなたでも。
実習は日本語で行います。

主催: 静岡大学グリーン科学技術研究所 研究支援室 分子構造解析部
講師: 川本竜彦 (理学部地球学科)、大井研究員(益富地学会館)
申込: 2022年5月1日(月曜日)正午〆切

フォローアップは希望時刻(2時間単位)と相談内容をお書きください。申込順に4組で締め切ります。

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講習参加申込フォーム

講習会タイトル:電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM-EDS-EBSD)とタングステンフィラメント型波長分散型電子線微小部分析装置(W-EPMA-WDS)講習会

氏名:

所属:

職名(学年):

指導教員名(学生の場合):

連絡先TEL:

連絡先e-mail:

フォローアップ実習参加希望時刻の希望順をお書きください。

12/19月曜日

10:00

13:00

15:00

12/20火曜日

15:00

 

受講希望の方は申込書をグリーン科学技術研究所 分子構造解析部(片田)katada.kumiko@shizuoka.ac.jpまで送信くださいます様お願いいたします。

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第5回の講習会

タイトル:

第5回 電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM-EDS-EBSD)とタングステンフィラメント型波長分散型電子線マイクロプローブ装置(W-EPMA-WDS)機器講習会

日時:

初心者講習会 2022年12月20日(火)9:00~12:00

フォローアップ 2022年12月19日(月)午前、午後、20日(火) 午後の各2時間

場所:

初心者講習会座学 12月20日(火)9:00~9:45: 静岡キャンパス 総合研究棟4階創造大学院会議室(414)

初心者講習会実習 12月20日(火)9:45~12:00とフォローアップセッション: 静岡キャンパス 総合研究棟211(FE-SEM)、207室(EPMA)

講習内容:

電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM-EDS-EBSD)とタングステンフィラメント型波長分散型電子線マイクロプローブ装置(W-EPMA-WDS)の基本原理と使用方法について、座学と実習を行う。 希望する利用者に個別のフォローアップを行う。

いずれも電子線を対象物に照射し発生する特性X線の強度から構成元素を分析する装置です。FE-SEM-EDS-EBSDは高倍率でのSEMとBEI観察、エネルギー分散型元素分析、元素マッピング、結晶方位測定が可能です。特に、低真空でも像の観察、元素分析ができるため蒸着の必要がなく、表面が研磨されている必要もありません。2021年12月静岡キャンパスに納品された機器(日本電子社製JSM-IT700HR、オックスフォード社製170mm^2 検出器+symmetry2 EBSD検出器)です。 W-EPMA-WDSは従来型の波長分散型元素分析(0.1wt%以下)と研磨試料の広範囲の元素マッピングに使用できます。2021年12月静岡キャンパスに納品された機器(日本電子社製JXA-iSP100)です。 今回の初心者実習は10月に実施したものと同内容です。

受講対象者:

希望者どなたでも。
実習は日本語で行います。

主催:

静岡大学グリーン科学技術研究所 研究支援室 分子構造解析部

講師:

川本竜彦 (理学部地球学科)、大井研究員(益富地学会館)

申込:

2022年12月16日(金曜日)午前9時〆切

既利用者のフォローアップ講習について:

電子顕微鏡の利用は、現在支援者がいませんので、自力で使用できる人に限って使用してもらっています。既に使用したことのある人で大井研究員(益富地学会館)に技術的指導を希望する人のために、今回は月曜日と火曜日午後に時間を設けます。フォローアップは希望時刻(2時間単位)と相談内容をお書きください。申込順に5組で締め切ります。希望があれば、1―3月期にも行います(希望をお寄せください)。

なお、大井研究員(益富地学会館)の出張には学長裁量経費を使用しています。

装置の概要は次のHPにあります。

https://wwp.shizuoka.ac.jp/jsmit700-jxaisp100/%e3%81%93%e3%81%ae%e6%a9%9f%e6%a2%b0%e3%81%ab%e3%81%a4%e3%81%84%e3%81%a6/

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講習参加申込フォーム    2022年12月16日(金曜日)午前9時〆切

講習会タイトル:電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM-EDS-EBSD)とタングステンフィラメント型波長分散型電子線微小部分析装置(W-EPMA-WDS)講習会

氏名:

所属:

職名(学年):

指導教員名(学生の場合):

連絡先TEL:

連絡先e-mail:

フォローアップ実習参加希望時刻の希望順をお書きください。

12/19(月)

(   )10:00

(   )13:00

(   )15:00

12/20(火)

(   )13:00

(   )15:00

フォローアップ実習の相談内容をお書きください。

受講希望の方は申込書をグリーン科学技術研究所 分子構造解析部(片田)katada.kumiko@shizuoka.ac.jpまで送信くださいます様お願いいたします。

第4回の講習会

日時:2022年10月24日(月)9:00~17:00

場所: 座学 静岡キャンパス 理学部B棟2階B201室

10月24日(月)  9:00~9:30

実習 静岡キャンパス総合研究棟211(FE-SEM)、207室(EPMA)(初心者実習とフォローアップ)

10月24日(月)9:30~12:00(初めての方)

個別実習13:00~17:00(希望があれば、既使用者のフォローアップをします)

第3回
日時と場所
2022年7月8日(金)
12:00~12:30 総合研究棟221室(座学)

2022年7月8日(金)、11日(月)
13:00~16:00 総合研究棟211室 および 総合研究棟207室 (実習)

第2回
日時と場所
2022年4月22日(金)
11:00~12:00 総合研究棟221室(座学)

2022年4月22日(金)、25日(月)、26日(火)
12:30~15:30 総合研究棟211室 および 総合研究棟207室 (実習)

第1回
日時
2022年1月20日(木)
時間と場所
13:00~14:00 総合研究棟221室(座学)
14:00~16:30 総合研究棟211室(FE-SEM) および 総合研究棟207室(SEM-EPMA)

 

 

機器の使用法に関するメモ

こちらをご覧ください

 

 

よくある質問

Q 1-2時間など、短時間の使用は可能ですか?また、数日かかるような長時間の使用は可能ですか?

A 短時間の予約や使用は可能です。
また長時間については予約状況によりますが、2022年4月現在は予約数が少ないため可能かと思います。ただし込み具合によってはお断りすることもあります。

 

Q 粉末試料はFE-SEM-EDXの故障につながるため、粉末試料の測定が認められないと聞いたのですが本当でしょうか?

A EDXの真空を保つための膜が、静電気などの影響で飛んできた粉体により破れてしまい、検出器が壊れる恐れがあるため注意が必要らしいです。
ですが当然粉末試料の需要はありますし、今現在は粉末試料については、カーボンテープに乗せてエアスプレーで吹き飛ばし、残ったものを観察という形であれば許可しています。
ただし帯電により粉末試料が動くさまがみられるなどの場合には、観察途中で中断していただくこともあります。

「エアスプレーで吹き飛ばすなどの過程を経たくない試料」の観察や測定を希望される方は、別途相談してください。

 

Q 研究計画の都合上、予約開始前(一か月以上先)の日程について予約したいのですが、可能でしょうか?

A 事情を説明していただければ、1日であれば予約開始前の日についても予約を受け付けます。管理人にメールでお知らせください。
2日以上にわたる場合も相談には応じますが、混み具合によってはお断りする場合もあります。ご了承ください。

 

 

機器の型番など

機器の情報についてはこちらも参考にしてください

 

FE-SEM-EDX-EBSD

電解放出型走査型電子顕微鏡
+ エネルギー分散型X線分析装置
+ 後方散乱電子回折装置

Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM; JEOL JSM-IT700HR)
+ Energy Dispersive X-ray Spectroscopy (EDS; Oxford instruments Ultim Max 170)
+ Electron Backscatter Diffractint Analyzer (EBSD; Oxford 
instruments Symmetry S2)

SEM-EPMA

走査型電子顕微鏡
+ 電子線マイクロアナライザー

Scanning Electron Microscope
+ Electron Probe Micro Analyzer
(SEM-EPMA; JEOL JXA-iSP100)

 

機械のある場所

静岡大学 グリーン科学技術研究所

Shizuoka University Research Institute of Green Science and Technology