5-10.第2回電界放出型走査電子顕微鏡講習会

10. 第2回 電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM-EDS-EBSD)機器講習会

 

2023年12月11日(月)

午前10時20分~11時5分(原理と利用方法)

午前11時10分~12時25分(実習)

場所:理学部B棟204室、総合研究棟 211室
講師 川本竜彦(理学部)

参加人数:15名(学生10名、教員3名、技術職員2名)

 

電界放出型走査電子顕微鏡の基本原理と利用方法について概説した。その後、電界放出型走査電子顕微鏡を利用して、試料の準備方法、ステージの選択と高さに関する注意点、試料の鏡筒内への挿入方法、二次電子線像の観察、反射電子線像の観察について説明した。その後、エネルギー分散型検出器を挿入し、元素マッピングと点分析を説明した。最後に、データの保存方法と送信方法を伝えた。受講者からは、(1)三葉虫の複眼を作る結晶の方位の分析方法についてと、(2)生物試料の調整について、(3)カンラン岩の試料作成手順などの質問があり、それに答えた。理学部、農学部、技術部とグローバル国際共創学部から参加があり、新規の研究室が4つあった。