国際学会発表
[1] K. Hayashi, H. Nakagawa, S. Kawasaki, M. Deki, Y. Honda, H. Amano, Y. Inoue, T. Aoki, and T. Nakano, “Evaluation of high-temperature tolerance in group-III nitride semiconductor detectors”, 2022 IEEE Nuclear Science Symposium, Medical Imaging Conference and Room Temperature Semiconductor Detector Conference (2022 IEEE NSS MIC RTSD), R-10-03, The Milano Convention Centre (MiCo), Mirano, Italy, November 5-12, 2022
国内学会発表
[1] 林幸佑、中川央也、川崎晟也、出来真斗、本田善央、天野浩、井上翼、青木徹、中野貴之、“Ⅲ族窒化物半導体デバイスの高温環境下における放射線検出性能の評価”、次世代放射線シンポジウム2022（第34回放射線夏の学校）、№18、近畿大学東大阪キャンパス、2022年8月18-19日
[2] 林幸佑、中川央也、川崎晟也、出来真斗、本田善央、天野浩、井上翼、青木徹、中野貴之、“III族窒化物半導体検出器の高温耐性評価”、第69回応用物理学会春季学術講演会、22a-F308-5、青山学院大学相模原キャンパス、2022年3月22-26日
[3] 林 幸佑、中川 央也、宮澤 篤也、川崎 晟也、本田 善央、天野 浩、井上 翼、青木 徹、中野 貴之、“BGaNダイオードの高温環境下における検出特性評価”、第82回応用物理学会秋季学術講演会、12p-N221-2、オンライン、2021年9月10-13日
