特許 |

23	発明者　中澤　謙太、岩田　太出願人　国立大学法人静岡大学　出願日令和5年2月24日特願　2023-027515 エッチング装置及びエッチング方法
22	発明者　中村　史、松本　大亮、加藤　義雄、岩田　太出願人　国立研究開発法人産業技術総合研究所　出願日平成27年3月10日特願　2015-04739 ナノニードルアレイを用いた細胞への物質導入特許番号　6449057号　登録日平成30年12月14日
21	(外国出願)Inventors: F.Iwata, T. Shiomi, and K. Suzuki CONTACT STATE DETECTION APPARATUS Assignee National University Corporation Shizuoka University Application Number: 13/744,587 Patent No.: US 9,118,311 B2　Date ofPatent: Aug.25,2015
20	発明者　岩田太、出願人　国立大学法人静岡大学　出願日　平成23年8月31日、特願2011-189801 微小付着物剥離システムおよび微小付着物剥離方法特許 5849331号　登録日　平成27年12月11日
19	発明者　東條徹¹、鵜木信¹、萩原良典¹、北村美津子¹、岩田　太² 出願人：株式会社デザインテック ¹　国立大学法人静岡大学² 基板上に微小物質を再現性良く推積させる方法特願2011-227227号　出願日2011.10.14
18	発明者　岩田　太、塩見俊夫、鈴木康司出願人　国立大学法人静岡大学　特願2011-65959号　出願日　2011.07.13 接触状態検出装置接触状態検出方法接触状態検出用コンピュータープログラム接触状態検出装置を備る電気伝導度測定システム及接触状態検出方法を含電気伝導度測定方法，特許　5849335号　登録日　平成27年 12月 11日
17	発明者　岩田太、出願人：国立大学法人静岡大学接触状態検出装置、接触状態検出方法および接触状態検出用コンピュータプログラム, 特願2010-159971号　出願日　2010.07.14
16	発明者　岩田太、出願人静岡大学ステージ装置特願2009-100897号　出願日2009.4.17
15	発明者　岩田太、安武正敏、中上卓哉、菊池修一、高岡修液中測定装置及び液中測定方法出願人　静岡大学、エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社出願日2007. 6.14　特願2007-157585号,　特開2008-309630 特許4870033号
14	発明者　岩田太、安武正敏、中上卓哉、菊池修一、高岡修出願人静岡大学、エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社微細加工粉除去装置及び微細加工装置並びに微細加工粉除去方法出願日2007.6.1, 特願2007-147138号, 特開2008-012656, 特許5044290号
13	発明者　岩田太出願人：静岡大学微粒子固定装置および微粒子固定方法出願日2008.1.25　特願2008‐14642　特開2009-006311 特許第 5447759号（2014）
12	発明者　岩田太出願人　静岡大学磁気プローブ、同磁気プローブの製造方法および同磁気プローブを備える微粒子配置装置出願日2007.8.31,　特願2007‐227209、特開2009-056565
11	(外国出願)Inventors: F. Iwata, M. Yasutake, T. Nakaue, K. Syuichi, O. T. Osamu, Micro-machining dust removing device, micro-machining apparatus, and micro-machining dust removing method, Assignee: Shizuoka University, SII Nano Technology Inc., 出願日2007.6.4 (Application Number : 11/810,230,United States Patent Application 20080132151)
10	発明者　岩田太、山本龍二、伊東聡、佐々木彰出願人：静岡大学微小物質固定装置及び微小物質固定方法出願日2008.1.25, 特願2006‐236599、特開2008-055349
9	発明者　岩田太, 山本龍二、佐々木彰出願人　静岡大学、成膜装置及び成膜方法、出願日2006.8.31, 特願2006‐236598、特開2008-057011特許第486258号
8	発明者　岩田太出願人　静岡大学光硬化性樹脂の微細加工方法及び装置出願日2005.10.25　特願2005‐306214　特開2007-112021
7	発明者　岩田太出願人　静岡大学散乱光検出方法偏光変調装置及び走査型プローブ顕微鏡出願日2005.3.31, 特願2005‐105316、特開2006-098386
6	発明者　岩田太, 伊東　聡微小物質の再配置方法出願人　静岡大学出願日2004.6.8, 特願2004-170126号　特開2005-349254
5	発明者　岩田太出願人　静岡大学基板上に微小物質を堆積させる方法出願日2004.6.8, 特願2004-170125, 特開2005-349496
4	発明者　岩田太微細加工方法及び装置出願人　静岡大学出願日2004.6.8, 特願2004-169761, 特開2005-349487
3	発明者　坂口浩司、岩田太、佐々木彰、長村利彦出願人　静岡大学長電流の計測方法および表面の測定装置出願日2000.12.7,　特許第3551308号
2	発明者　坂口浩司、岩田太、佐々木彰電流の計測方法および表面形状の測定装置出願人静岡大学出願日2001.3.8,　特許第3551315号
1	発明者　岩田太、田中裕之出願人　富士通㈱走査型電子顕微鏡出願日1992.10.30　特願平4-293038公開特許公報（Ａ）特開平6-150868

23	発明者　中澤　謙太、岩田　太出願人　国立大学法人静岡大学　出願日令和5年2月24日特願　2023-027515 エッチング装置及びエッチング方法
22	発明者　中村　史、松本　大亮、加藤　義雄、岩田　太出願人　国立研究開発法人産業技術総合研究所　出願日平成27年3月10日特願　2015-04739 ナノニードルアレイを用いた細胞への物質導入特許番号　6449057号　登録日平成30年12月14日
21	(外国出願)Inventors: F.Iwata, T. Shiomi, and K. Suzuki CONTACT STATE DETECTION APPARATUS Assignee National University Corporation Shizuoka University Application Number: 13/744,587 Patent No.: US 9,118,311 B2　Date ofPatent: Aug.25,2015
20	発明者　岩田太、出願人　国立大学法人静岡大学　出願日　平成23年8月31日、特願2011-189801 微小付着物剥離システムおよび微小付着物剥離方法特許 5849331号　登録日　平成27年12月11日
19	発明者　東條徹¹、鵜木信¹、萩原良典¹、北村美津子¹、岩田　太² 出願人：株式会社デザインテック ¹　国立大学法人静岡大学² 基板上に微小物質を再現性良く推積させる方法特願2011-227227号　出願日2011.10.14
18	発明者　岩田　太、塩見俊夫、鈴木康司出願人　国立大学法人静岡大学　特願2011-65959号　出願日　2011.07.13 接触状態検出装置接触状態検出方法接触状態検出用コンピュータープログラム接触状態検出装置を備る電気伝導度測定システム及接触状態検出方法を含電気伝導度測定方法，特許　5849335号　登録日　平成27年 12月 11日
17	発明者　岩田太、出願人：国立大学法人静岡大学接触状態検出装置、接触状態検出方法および接触状態検出用コンピュータプログラム, 特願2010-159971号　出願日　2010.07.14
16	発明者　岩田太、出願人静岡大学ステージ装置特願2009-100897号　出願日2009.4.17
15	発明者　岩田太、安武正敏、中上卓哉、菊池修一、高岡修液中測定装置及び液中測定方法出願人　静岡大学、エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社出願日2007. 6.14　特願2007-157585号,　特開2008-309630 特許4870033号
14	発明者　岩田太、安武正敏、中上卓哉、菊池修一、高岡修出願人静岡大学、エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社微細加工粉除去装置及び微細加工装置並びに微細加工粉除去方法出願日2007.6.1, 特願2007-147138号, 特開2008-012656, 特許5044290号
13	発明者　岩田太出願人：静岡大学微粒子固定装置および微粒子固定方法出願日2008.1.25　特願2008‐14642　特開2009-006311 特許第 5447759号（2014）
12	発明者　岩田太出願人　静岡大学磁気プローブ、同磁気プローブの製造方法および同磁気プローブを備える微粒子配置装置出願日2007.8.31,　特願2007‐227209、特開2009-056565
11	(外国出願)Inventors: F. Iwata, M. Yasutake, T. Nakaue, K. Syuichi, O. T. Osamu, Micro-machining dust removing device, micro-machining apparatus, and micro-machining dust removing method, Assignee: Shizuoka University, SII Nano Technology Inc., 出願日2007.6.4 (Application Number : 11/810,230,United States Patent Application 20080132151)
10	発明者　岩田太、山本龍二、伊東聡、佐々木彰出願人：静岡大学微小物質固定装置及び微小物質固定方法出願日2008.1.25, 特願2006‐236599、特開2008-055349
9	発明者　岩田太, 山本龍二、佐々木彰出願人　静岡大学、成膜装置及び成膜方法、出願日2006.8.31, 特願2006‐236598、特開2008-057011特許第486258号
8	発明者　岩田太出願人　静岡大学光硬化性樹脂の微細加工方法及び装置出願日2005.10.25　特願2005‐306214　特開2007-112021
7	発明者　岩田太出願人　静岡大学散乱光検出方法偏光変調装置及び走査型プローブ顕微鏡出願日2005.3.31, 特願2005‐105316、特開2006-098386
6	発明者　岩田太, 伊東　聡微小物質の再配置方法出願人　静岡大学出願日2004.6.8, 特願2004-170126号　特開2005-349254
5	発明者　岩田太出願人　静岡大学基板上に微小物質を堆積させる方法出願日2004.6.8, 特願2004-170125, 特開2005-349496
4	発明者　岩田太微細加工方法及び装置出願人　静岡大学出願日2004.6.8, 特願2004-169761, 特開2005-349487
3	発明者　坂口浩司、岩田太、佐々木彰、長村利彦出願人　静岡大学長電流の計測方法および表面の測定装置出願日2000.12.7,　特許第3551308号
2	発明者　坂口浩司、岩田太、佐々木彰電流の計測方法および表面形状の測定装置出願人静岡大学出願日2001.3.8,　特許第3551315号
1	発明者　岩田太、田中裕之出願人　富士通㈱走査型電子顕微鏡出願日1992.10.30　特願平4-293038公開特許公報（Ａ）特開平6-150868