特許

22 発明者 中村 史、松本 大亮、加藤 義雄、岩田 太
出願人 国立研究開発法人産業技術総合研究所 出願日平成27年3月10日特願 2015-04739
ナノニードルアレイを用いた細胞への物質導入
特許番号 6449057号 登録日平成30年12月14日
21 (外国出願)Inventors: F.Iwata, T. Shiomi, and K. Suzuki
CONTACT STATE DETECTION APPARATUS
Assignee National University Corporation Shizuoka University
Application Number: 13/744,587
Patent No.: US 9,118,311 B2 Date ofPatent: Aug.25,2015
20 発明者 岩田太、
出願人 国立大学法人静岡大学 出願日 平成23年8月31日、特願2011-189801
微小付着物剥離システムおよび微小付着物剥離方法
特許 5849331号 登録日 平成27年12月11日
19 発明者 東條徹1、鵜木信1、萩原良典1、北村美津子1、岩田 太2
出願人:株式会社デザインテック 1  国立大学法人静岡大学2
基板上に微小物質を再現性良く推積させる方法
特願2011-227227号 出願日2011.10.14
18 発明者 岩田 太、塩見 俊夫、鈴木 康司
出願人 国立大学法人静岡大学 特願2011-65959号 出願日 2011.07.13
接触状態検出装置接触状態検出方法接触状態検出用コンピュータープログラム接触状態検出装置を備る電気
伝導度測定システム及接触状態検出方法を含電気伝導度測定方法,
特許 5849335号 登録日 平成27年 12月 11日
17 発明者 岩田太、
出願人:国立大学法人静岡大学
接触状態検出装置、接触状態検出方法および接触状態検出用コンピュータプログラム,
特願2010-159971号 出願日 2010.07.14
16 発明者 岩田太、
出願人 静岡大学
ステージ装置
特願2009-100897号 出願日2009.4.17
15 発明者 岩田太、安武正敏、中上卓哉、菊池修一、高岡 修
液中測定装置及び液中測定方法
出願人 静岡大学、エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
出願日2007. 6.14  特願2007-157585号, 特開2008-309630
特許4870033号
14 発明者 岩田太、安武 正敏、中上卓哉、菊池修一、高岡 修
出願人 静岡大学、エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
微細加工粉除去装置及び微細加工装置並びに微細加工粉除去方法
出願日2007.6.1, 特願2007-147138号, 特開2008-012656, 特許5044290号
13 発明者 岩田太
出願人: 静岡大学
微粒子固定装置および微粒子固定方法
出願日2008.1.25 特願2008‐14642 特開2009-006311 特許第 5447759号(2014)
12 発明者 岩田太
出願人 静岡大学
磁気プローブ、同磁気プローブの製造方法および同磁気プローブを備える微粒子配置装置
出願日2007.8.31, 特願2007‐227209、特開2009-056565
11 (外国出願)Inventors: F. Iwata, M. Yasutake, T. Nakaue, K. Syuichi, O. T. Osamu,
Micro-machining dust removing device, micro-machining apparatus, and micro-machining dust removing method,
Assignee: Shizuoka University, SII Nano Technology Inc.,
出願日2007.6.4 (Application Number : 11/810,230,United States Patent Application 20080132151)
10 発明者 岩田太、山本龍二、伊東聡、佐々木彰
出願人:静岡大学
微小物質固定装置及び微小物質固定方法
出願日2008.1.25, 特願2006‐236599、特開2008-055349
9 発明者 岩田太, 山本 龍二、佐々木 彰
出願人 静岡大学、
成膜装置及び成膜方法、
出願日2006.8.31, 特願2006‐236598、特開2008-057011特許第486258号
8 発明者 岩田太
出願人 静岡大学
光硬化性樹脂の微細加工方法及び装置
出願日2005.10.25  特願2005‐306214 特開2007-112021
7 発明者 岩田太
出願人 静岡大学
散乱光検出方法偏光変調装置及び走査型プローブ顕微鏡
出願日2005.3.31, 特願2005‐105316、特開2006-098386
6 発明者 岩田太, 伊東 聡
微小物質の再配置方法
出願人 静岡大学
出願日2004.6.8, 特願2004-170126号 特開2005-349254
5 発明者 岩田太
出願人 静岡大学
基板上に微小物質を堆積させる方法
出願日2004.6.8, 特願2004-170125, 特開2005-349496
4 発明者 岩田太
微細加工方法及び装置
出願人 静岡大学
出願日2004.6.8, 特願2004-169761, 特開2005-349487
3 発明者 坂口浩司、岩田太、佐々木彰、長村利彦
出願人 静岡大学長
電流の計測方法および表面の測定装置
出願日2000.12.7, 特許第3551308号
2 発明者 坂口浩司、岩田太、佐々木彰
電流の計測方法および表面形状の測定装置
出願人 静岡大学
出願日2001.3.8, 特許第3551315号
1 発明者 岩田太 、 田中 裕之
出願人 富士通㈱
走査型電子顕微鏡
出願日1992.10.30 特願平4-293038公開特許公報(A)特開平6-150868