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  • 走査電子顕微鏡(SEM)使用停止のおしらせ(7/3-7/6)

    走査電子顕微鏡(JSM-7600F)整備作業のため、
    下記の日程で利用を停止いたします。

    停止期間：7/3(月)-7/6(木)

    7/7追記：整備作業中のトラブルのため、
    　　　停止期間を-7/7(金)まで延長いたします。

  • Stop using Scanning Electron Microscope(7/3-7/6)

    Due to maintenance work on the scanning electron microscope (JSM-7600F),
    It will be stopped during the following period.

    Stop period: July 3rd -July 6th