走査型電子顕微鏡(SEM)利用停止のおしらせ(10/22-10/24)
高電圧印加用マイクロスイッチ修理のため、
下記の日時で走査型顕微鏡(SEM)の利用を停止いたします。停止期間：12月2日(月)13:00-19:00
Stop using Scanning Electron Microscope(12/2)
Due to maintenance work, the Scanning Electron Microscope will be unavailable on the following dates and times.
Date: Monday, December 2 13:00-19:00