走査電子顕微鏡(SEM)使用再開のおしらせ

本日、走査電子顕微鏡(JSM-7600F)整備作業が終了しました。
利用を再開いたします。

 Scanning Electron Microscope restoration

The restoration of Scanning Electron Microscope has been completed.
Use of the system will be resumed.