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  • 走査電子顕微鏡(SEM)使用再開のおしらせ

    本日、走査電子顕微鏡(JSM-7600F)整備作業が終了しました。
    利用を再開いたします。

  •  Scanning Electron Microscope restoration

    The restoration of Scanning Electron Microscope has been completed.
    Use of the system will be resumed.