実験装置(日本語)

wwwp-qr

  • 試料作製・処理
    1)乾燥炉, (2)計量用精密電子天秤(分解率10μg), (3)混合用自動乳鉢,(4)静水成型プレス, (5)焼結管状炉(自作、温度制御、使用温度1500℃), (6)焼結用高温炉(最高温度1700℃,(7)SPS(Spark Plasmas Sintering)焼結装置(加圧範囲 20 KN,最高使用温度2400℃),(8)単結晶炉(最高使用温度1800℃,2-ゾーン),(9)RTA炉炉(昇温速度>50℃/分),(10)単結晶方位カッタ―, (11)研磨機, (12) 電極蒸着装置.

drying ovenmicrobalance.jpgIMGP0199

isostatic pressingFurnaceFull-tech-1700C

SPS210SH2Bridgman furnaceMila5000UHV2

Cutter with goniometerPolishingQuick coater2

  • 構造評価
    粉末X線回折装置

Bruker-X-ray

  • 光学特性評価
    (1)偏光顕微鏡(温度:83K-873K透過、反射二モード,温度可変・電場でのドメイン観察可能、膜誘電測定も可能),(2) 线形光电效应测量用干涉仪

Polarization microscopyinterferometer2

  • 電気特性評価
    (1)分極装置(温度:-250℃電圧:2万V), (2) Piezo d33/d31 meter(ZJ-6B)圧電メ―タ,(3)Keithley 6517 electrometer/High resistance meter, (4) Precision LCR meter E4980(200Hz-2MHz),(5)電気分極履歴極性、電場歪み曲線測定システム(D-E loop, 最高印可交流電圧:1万ボルト,温度:-40℃~200℃, 変位:1nm~50μm), (6)仁木工芸低温測定システム(温度:4K-500K, 抵抗、誘電、焦電、圧電共振測定可能,光学窓あり、光学測定も可能),(7) 高温測定システム(300K-1300K,誘電、圧電測定)

HighVolt20kVPiezometer6517B

FCE-3 FEsystemLTS-205-TL-4W-3

HT-dielectrieHT-electric-4